北京市电力高可靠性集成电路设计工程技术研究中心于2015年1月由科技部、国家发改委认定成立，依托北京智芯微电子科技有限公司建设，中心主任为张海峰。
实验室共有研究人员39人，其中中国工程院院士1人，"其他计划"专家1人，研究员级高级工程师1人，高级工程师4人，工程师32人。
主任张海峰为公司技术总监，主持实施的项目获国内专利51项、国际专利6项、软件著作权18项、集成电路布图登记19项，获省部级科技进步一等奖1项、行业级科技进步奖5项。
骨干专家包括孙家广院士（清华大学软件学院院长、国家自然科学基金委员会副主任）、李伟教授（浙江工业大学智慧经济研究院院长）、赵东艳（北京智芯微电子总经理，国网公司"智能电网专用芯片安全技术科技攻关团队"带头人）。团队申请专利23项（发明专利17项），发表论文24篇，出版专著4部。

实验室占地6000余平米，拥有高精尖设备300余台，是电力芯片、元器件综合性测试分析实验室，面向新一代信息技术领域提供以下技术服务：
1.功能性能验证服务（芯片功能性能及协议测试，FPGA、分立器件评测）
2.工艺测试服务（半导体器件、芯片圆片及封装工艺评测，工业芯片工艺筛选量产测试）
3.气候环境可靠性测试服务（芯片、模块到整机的可靠性测试，40多款芯片大规模稳定同测）
4.电磁环境可靠性测试服务（芯片全套电磁兼容能力评测，模块及整机电磁兼容测试）
5.失效分析服务（芯片、器件到PCB板故障定位及整改，芯片防伪鉴别，知识产权鉴定）
6.电力上下游企业芯片技术支撑与系统解决方案服务